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溫度衝擊試驗箱軍標(GJB 360.7-87下載)
2016-06-29 17:01  點擊數:
電子及電氣元件試驗方法
 
溫度衝擊試驗
 
GJB 360.7-87
 
試驗程序
 
1、初始檢測
 
   在試驗的標準大氣條件下,按有關標準的規定對試驗樣品進行外觀檢查和性能檢測。
 
2、試驗樣品的安裝
   
   試驗樣品的安裝由有關標準規定,當裝入試驗箱時,應使氣流暢通無阻地穿過及繞過試驗樣品。
 
3、試驗
 
   3.1 將試驗樣品置於低溫箱中,此時,低溫箱的溫度已調至表1規定的極值溫度,並在此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
 
   3.2 保溫時間到,在5min內將試驗樣品從低溫箱移至高溫箱中。此時,高溫箱的溫度已調至表1規定極值溫度,並在此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
 
   3.3 保溫時間到,在5min內將試驗樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時,低溫箱的溫度已調至表3.1規定極值溫度,並在此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
 
   3.4 按表1規定的循環次數,重複3.1至3.3款。一次循環包括表1中的步驟1至4.
 
       最初的5次循環應該連續的進行,5次循環之後,在任何一次循環完成之後都可以中斷試驗。再恢複試驗之前可允許試驗樣品恢複到試驗的標準大氣條件。
 
4、中間檢測
 
   具體請下載如下標準參考:


GJB 360.7-87 溫度衝擊試驗

 

產品型號

WSLR-042T

WSLR-080T

WSLR-150T

WSLR-252T

WSLR-450T

產品簡介

  兩箱式高低溫衝擊試驗箱用來測試材料結構或複合材料,在瞬間下經極高溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。 
主要用於電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業,國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反複抵拉力及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具

技術參數

型號

WSLR-042T

WSLR-080T

WSLR-150T

WSLR-252T

WSLR-450T

內部尺寸WxHxD(cm)

40×35×30

50×40×40

60×50×50

70×60×60

80×75×75

外部尺寸WxHxD(cm)

140x180x145

148X190X155

160x200X175

175x210X187

190x220x200

溫度範圍

(150℃~A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃);(高溫區 High temperature zone :+60℃~+150℃;低溫區 Low temperature zone :-10℃~-65℃;)

升溫時間(蓄熱區)

RT~200℃約需35min

降溫時間(蓄冷區)

RT~-70℃約需85min

溫度回複時間/轉換時間

≤5min內 / ≤10sec內

溫度控製精度/分布精度

±0.5℃ / ±2.0℃

內外部材質

全機為SUS 304#不鏽鋼板霧麵處理,內箱為不鏽鋼

保溫材質

耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料

係統

P.I.D+S.S.R+微電腦平衡調溫控製係統

冷卻係統

半密閉式雙段壓縮機(水冷式)/全密閉式雙段壓縮機(風冷式)

安全保護裝置

無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關、冷媒高壓保護開關、故障警告係統、電子警報器

配件

觀窗口(特殊選購型)、上下可調隔層兩片、通電測線孔、腳輪、水平支架

電源

AC380V 50HZ/60HZ 3∮

重量(大約)

700Kg

900Kg

1200Kg

1400Kg

1900Kg

控製器

韓國“TEMI” South Korea“TEMI” 或日本“OYO”牌 Japan's “OYO” Brand  任選Optional

壓縮機

法國"泰康"牌France/s "Tecumseh" Brand


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